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德国 卡尔德意志 KD LEPTOSKOP2042涂层测厚仪,镀层,漆膜测厚仪

德国KD涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法和涡流法测量镀层厚度,有多种规格探头可供选择

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编码:

FA01-000590

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  • 存货编码: FA01-000590
  • 品牌: 卡尔德意志(KD)(德国)


LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042具有精准的测量技术和简单的操作方法,是的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场迅速的升级。

可定制带系统的涂层测厚

涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042 利用磁感应法DIN EN ISO 2178测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法DIN EN ISO 2360测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚度。

仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求,是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。

彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

特点概述:

大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯



校准选项

出厂时已校准,立即可用

在未知涂层上校准

零校准

在无涂层的基体上一点和多点校准

在有涂层的基体上校准

校准数据可以别单独存储在独立的校准档案中,也可以随时调出

可选择的显示模式,以佳形式去完成测量任务

输入和极限监视*

Windows下有简单的存储读数档案管理

可用的电脑软件STATWIN 2002 EasyExport

统计:

可统计评估999个读数

小值、大值、测量个数、标准偏差和极限监视

局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN ISO 2808)

在线统计,所有统计值概括




LEPTOSKOP 2042 3种配置级别:
基本型 – 证明质量的基本特征                              

高级型 - 附加统计评估

专业型 - 统计评估和数据存储

如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在任何时候把仪器升级为高级型和/或专业型。升级只需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。


多样的探头:

多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm 也是可以的。根据需求,我们也可以订做特殊探头。

LEPTOSKOP 2042 涂层测厚仪技术参数:

显示技术

约48mm×24mm,背景灯光照明

测量方法

铁基测量:磁感应法(EN ISO 2178

非铁基测量:涡流法(EN ISO2360

测量范围

0-2000µm,根据使用的探头

校准

零校准

在无涂层的材料上用薄膜进行单点校准和多点校准

在涂层材料(铁基)上校准,如果没有无涂层材料

出厂校准

下载和保存客户的校准

 

测量误差(校准后)

涂层 < 100 μm: 1 % +/- 1 μm

涂层 > 100 μm: 1 to 3 % +/- 1 μm

涂层 > 1000 μm: 3 to 5 % +/- 10 μm

涂层 > 10000 μm5 % +/- 100 μm

接口

通过电源线USB/RS232

测量单位

可选择um,mm, mil, inch

存储

140个文件,每个文件999个测量值

全部:9999个测量值,每个生成的文件约100个测量值

统计

小值,大值,算数平均值,数据号,标准偏离,极限值监测,局部涂层厚度和平均值厚度根据EN ISO2808

日期和时间

实时时钟,用电池

电源

2AA电池,USB或独立的主机电源

操作时间

关背景灯照明约90小时(用碱性锰电池)

开背景灯照明约45小时(用碱性锰电池)

电池级别指示

4级电池级别指示,在电压前2-4小时,有声音报警,低电压时,自动关机

操作温度

0 °C to +45 °C

存放温度

-20 °C to +60 °无电池, 0 °C to +45 °有电池

防尘和湿度保护

防护等级IP 40(保护微粒侵入> 1 mm))

大小 (h x w x d)

81*121*32mm H*W*D

重量

150 g(无电池,无橡胶套)

电子探头

带有内置微处理器和单独处理的灵敏探头


基础套装

统计套装

数据套装

Fe基础套装       2042.901

NFe基础套装      2042.902

Fe/NFe基础套装  2042.903

基础套装包括:
LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件:试块,校准薄膜

Fe套装:探头2442.100

NFe套装:探头2442.130

Fe/NFe套装:探头2442.410

Fe统计套装       2042.911

NFe统计套装      2042.912

Fe/NFe统计套装  2042.913

统计套装包括:
LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件:PC电线(USB,PC软件EasyExport,试块,校准薄膜

Fe套装:探头2442.100

NFe套装:探头2442.130

Fe/NFe套装:探头2442.410

Fe数据套装       2042.921

NFe数据套装      2042.922

Fe/NFe数据套装  2042.923

数据套装包括:
LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件:统计和数据存储模块,

PC电线(USB,PC软件STATWIN2002t

试块,校准薄膜

Fe套装:探头2442.100

NFe套装:探头2442.130

Fe/NFe套装:探头2442.410

 北京埃森焊接与切割展现场展示德国KD无损检测设备








基础套装

统计套装

数据套装

Fe基础套装       2042.901

NFe基础套装      2042.902

Fe/NFe基础套装  2042.903

基础套装包括:
LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件:试块,校准薄膜

Fe套装:探头2442.100

NFe套装:探头2442.130

Fe/NFe套装:探头2442.410

Fe统计套装       2042.911

NFe统计套装      2042.912

Fe/NFe统计套装  2042.913

统计套装包括:
LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件:PC电线(USB,PC软件EasyExport,试块,校准薄膜

Fe套装:探头2442.100

NFe套装:探头2442.130

Fe/NFe套装:探头2442.410

Fe数据套装       2042.921

NFe数据套装      2042.922

Fe/NFe数据套装  2042.923

数据套装包括:
LEPTOSKOP 2042

供货范围和附件:统计和数据存储模块,PC电线(USB,PC软件STATWIN2002t,试块,校准薄膜

Fe套装:探头2442.100

NFe套装:探头2442.130

Fe/NFe套装:探头2442.410

点击下载2042涂层测厚仪中文说明书


德国卡尔德意志公司于1949年在乌普塔尔(德国)成立。自成立以来,公司一直致力于研发和制造无损检测(NDT)产品。 产品包括 数字式和模拟式超声波探伤仪、测厚仪、涂层测厚仪、裂纹测深仪、超声波检测系统、磁粉检测仪器、磁悬液和其它检测附件、渗透检测套装和渗透检测固定装置。

KD公司的产品以不断创新和安全可靠为特色,产品商标ECHOGRAPH, ECHOMETER, DEUTROFLUX,LEPTOSKOP, FLUXA, KD-Check RMG享誉全世界 。

KD公司一直凭借丰富的实践经验,理论知识和六十多年的专业诀窍,造就了符合质量管理保证体系的先进的仪器和附件。未来,KD会研发出更高品质,更可靠和更经济的产品,满足客户的需求。






泰亚赛福员工赴德国卡尔德意志总部进行为期两周技术培训学习




示值显示不稳定?

导致涂镀测厚仪示值显示不稳定的原因主要是来自工件本身的材料和结构的特殊性,比如工件本身是否为导磁性材料,如果是导磁性材料我们就要选择磁性涂镀层测厚仪,如果工件为导电体,我们就得选择涡流涂镀层测厚仪,还有工件的表面粗糙度和附着物也是引起仪器示值显示不温度的原因,工件表面粗糙度过大、表面附着物太多。排除故障的要点就是要将粗糙度比较大的工件打磨平整,出去附着物即可,再有就是选择适合的涂镀层测厚仪。


测量结果误差太多?

引起涂镀层测厚仪测量误差大的原因我们在以前的文章中已经介绍很清楚了,这里我们在简单介绍一下引起测量误差较大的原因主要有:基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头的放置方法等。


不显示数字?

造成涂镀层测厚仪不显示数字的简单原因就是检查电池是否电量充足,确定电池电量充足后如发现测量还是不显示数值。

累计评价

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